光計測・光センサー
- 1. 光計測
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- 1.1. 光ビーム測定
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- 1.1.1. ビュワーカード
- 1.1.2. ビームプロファイラ・M2ビーム品質測定器
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- 1.1.2.1. ビームパターンの測定
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- 1.1.2.1.1. ビームプロファイラとは
- 1.1.2.1.2. ビーム径の定義
- 1.1.2.1.3. 固定式ビームプロファイラのビームパターン計測法
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- 1.1.2.1.3.1. CCDカメラ型ビームプロファイラ
- 1.1.2.1.3.2. イメージセンサについて
- 1.1.2.1.4. 走査式ビームプロファイラのビームパターン計測法
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- 1.1.2.1.4.1. ピンホール型ビームプロファイラ
- 1.1.2.1.4.2. スリット型ビームプロファイラ
- 1.1.2.1.4.3. ナイフエッジ型ビームプロファイラ
- 1.1.2.1.5. N.F.P.（ニアフィールドパターン）とF.F.P.（ファーフィールドパターン）の測定
- 1.1.2.2. ビーム品質の測定
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- 1.1.2.2.1. M2ビーム品質測定器とは
- 1.1.2.2.2. M2の定義
- 1.1.2.2.3. M2の測定方法
- 1.1.3. 波面の測定法
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- 1.1.3.1. フィゾー型干渉計
- 1.1.3.2. 位相シフト干渉計による波面計測
- 1.1.3.3. その他の干渉計測技術
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- 1.1.3.3.1. 波長シフト干渉法
- 1.1.3.3.2. フーリエ変換位相干渉法
- 1.1.3.3.3. 走査型白色干渉計
- 1.2. 光パワーと光エネルギー測定
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- 1.2.1. 光パワーメータの種類と測定時における注意点
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- 1.2.1.1. 光パワーメータの種類
- 1.2.1.2. ビームのパワー測定における注意点
- 1.2.2. フォトディテクタ
- 1.2.3. フォトンカウンター
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- 1.2.3.1. 検出原理（光子計数法）
- 1.2.3.2. 計数型光電変換素子
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- 1.2.3.2.1. 光子計数型光電子増倍管
- 1.2.3.2.2. アバランシェフォトダイオード
- 1.2.3.2.3. 二次元光子計数管
- 1.2.3.3. 用途
- 1.2.4. 位置センサーディテクタ
- 1.2.5. 積分球
- 1.3. 光スペクトル測定
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- 1.3.1. 光スペクトルの測定方法
- 1.3.2. 光スペクトルの計測 – 光スペクトラムアナライザ
- 1.3.3. 分光器
- 1.3.4. 分光測定と分光光度計
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- 1.3.4.1. 分光測定の原理
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- 1.3.4.1.1. 光エネルギーの吸収
- 1.3.4.1.2. 吸光光度法と蛍光光度法
- 1.3.4.1.3. 透過率と吸光度
- 1.3.4.1.4. 分光反射率
- 1.3.4.2. 分光光度計の構成
- 1.3.4.3. 分光光度計の性能指標
- 1.3.4.4. 分光光度計の種類
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- 1.3.4.4.1. シングルビーム方式とダブルビーム方式
- 1.3.4.4.2. シングルモノクロメータとダブルモノクロメータ
- 1.3.4.5. 固体試料の分光特性測定
- 1.4. 偏光計測
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- 1.4.1. はじめに
- 1.4.2. 偏光状態の表記法
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- 1.4.2.1. ストークススペクトル
- 1.4.2.2. ストークスパラメータの導出
- 1.4.2.3. ポアンカレ球
- 1.4.2.4. 偏光度
- 1.4.3. 偏光計測
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- 1.4.3.1. 原理
- 1.4.3.2. 光学素子や生体試料の偏光解析
- 1.5. 超短光パルスの計測法
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- 1.5.1. 超短光パルスの伝搬とパルス広がり
- 1.5.2. 超短光パルスの計測
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- 1.5.2.1. 高速な光電変換素子を用いた方法
- 1.5.2.2. 相関波形を計測する方法
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- 1.5.2.2.1. 自己相関法
- 1.5.2.2.2. 周波数分解光学ゲート法(FROG)
- 1.5.2.2.3. スペクトル位相干渉法(SPIDER)
- 1.5.2.2.4. アップ・コンバージョン法
- 1.5.2.2.5. 時間相関単一光子計数法
- 1.5.2.3. 干渉を用いた方法
- 1.5.2.4. ストリーク・カメラを用いた方法
- 1.6. レーザー距離計測
- 1.7. SLAM
- 1.8. 流体計測技術
- 2. 光センサー
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- 2.1. 様々な光センサ
- 2.2. 光式センサーの種別
- 2.3. 光ファイバーセンサーとは
- 2.4. 光ファイバーセンサー計測方法
- 2.5. 光ファイバージャイロ