時間分解X線回折法(time-resolved X-ray diffraction)とは

X線をプローブ光として用いた，ポンプ・プローブ法によってX線回折測定をおこない，時々刻々と変化する構造変化を測定する方法．原子の動きを観測することにより，化学反応を時間空間で直接的に追跡できる．時間的に連続なX線と高速のX線検出器を用いて検出器に時間分解性を持たせる方法と，連続検出タイプの検出器とパルスX線を用いることにより時間分解をおこなう方法の種類があるX線ストリークカメラを用いることによりピコ抄オーダーでの時間分解計測が可能であるが，X線強度が非常に強いことが要求される．一方，超短パルス高強度レーザーを金属，ガスターゲットに集光照射すると，超短パルスX線を発生させることができる．このレーザープラズマX線で銅のK_α線(0.154 nm)などを発生させ，金属表面のピコ秒時間分解回折の実験，薄膜のアブレーションのダイナミンクスの測定がおこなわれており，サブピコの時間分解能が得られている．これは軌道放射光のX線を用いる方法と競合する．