近接場(ニアフィールド)光学顕微鏡(nearfield microscopy)とは

光の回折限界を超えた分解能を実現する光学顕微鏡．通常の光学顕微鏡の分解能は，光の回折限界で決定され，半波長程度が限界である．ニアフィールド顕微鏡では，微小な開口から漏れた光で試料を観察する．そのため，顕微鏡の分解能は開口径で決まり，波長より小さな開口を用いることにより，波長を超えた分解能を実現することができる．開口から漏れた光はすぐに広がってしまうため，十分な分解能を得るためには，開口を試料近傍(ニアフィールド)で走査する必要がある．開口を通して試料を照明するタイプ，試料からの散乱光を開口を通して検出するタイプ，試料近傍の場を金属プローブで散乱させるタイプなどさまざまな形態が催案されている．通常は，先の尖った光ファイバの先端を金属でコートし，金属に微小なピンホールを形成した探針が用いられる．従来の顕微鏡の分解能を大きく越える光学顕微鏡として，さまざまな分野での応用が期待されている．