ラジアルシアリング干渉計アルゴリズムで正方形開口に対処

標準的な波面計測干渉計は、計測される波面と収差のない参照ビームを結合することで動作する。2つのビームが干渉し、テスト波面の形状についての情報を提供する干渉縞を生成する（フィゾー干渉計が、その簡便さから最も一般的な構成になっている）。この方法の感度は非常に高いが、1つ問題がある。干渉ビームが必要になるため、そのような干渉計は光ビームのどこかに置くだけでその点での波面を計測することはできない。
　参照ビームを必要としないで波面を計測できる干渉計法、非干渉計法がある。非干渉計法アプローチは、よく知られたシャックハルトマン波面センサ（SHWFS）で、適応型オプティクスに使用されている。しかし干渉計法アプローチと異なり、SHWFSは比較的少ない数の離散点でしか波面をサンプリングしない。
　参照波面なしでテスト波面を直接受け入れることができる干渉計のタイプは、せん断干渉計である。この場合、テスト波面は、それ自身の位置ズレ複写と干渉する。位置ズレ複写とは、並進（横方向せん断）か、複写サイズの変更（放射状せん断）のいずれかである。
　四川大と中国工程物理研究院のレーザ核融合研究グループは、いわゆる環状ラジアルシアリング干渉計（CRSI）を使ってレーザシステムのビーム波面を無作為抽出検査したいと考えており、ルジャンドル多項式に基づいて、干渉計のための波面再構成アルゴリズムを開発した（1）。そのシステムは、過渡パルスを高速かつ正確に診断することができる。

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出典元
https://ex-press.jp/wp-content/uploads/2015/11/LFWJ1511_p17.pdf