サンプル光学系の設計パラメータ

図1:サンプル光学系の設計パラメータ

サンプルに集光した照射面からの反射光の検出強度を以下の式のように表現する。

サンプルに集光した照射面からの反射光の検出強度

ここで、 J1(v)は1次の第一種ベッセル関数で、 ν は規格化横方向範囲パラメータで以下の式であらわされる。

規格化横方向範囲パラメータ

ここで、xは光軸からの横方向距離であり、αは対物レンズによって制限された光の開口角の半値である。λ0は光源の中心波長である。ここで注目するのは、対物レンズのNAは以下の式であらわされる。

対物レンズのNA

ここで、上記式I(ν)をOCTシステムの焦点面における点状分布関数とし、これを横方向分解能δxと最大電力の半値全幅で定義し、評価する。それを以下の式で求める。

点状分布関数

OCTの横方向の測定範囲は多大に採用している横方向掃引システムの詳細に依存する。特に、単純な掃引システムはサンプルアームの光線を回転させるいくつかの方法を採用しており、対物レンズの入射開口の最大片側最大掃引角度θmaxに制限される.このような場合、横方向測定範囲は単に

横方向測定範囲

によって与えられる.