低コヒーレンス干渉

光の干渉は、後方散乱光の時間遅延と強度を非常に高感度に測定するのに強力な技術である。OCTは低コヒーレンス干渉として知られる古典的な光計測技術を基礎としている。ニュートンがいうように白色干渉としても知られる。低コヒーレンス干渉は1980年代、ファイバーや導波路デバイスにおける後方散乱や光時間遅延の計測としてフォトニクスの分野において用いられていた。初期の低コヒーレンス干渉の生体分野への応用は、Fercherなどに1988年に目の奥行き方向の長さ測定として行われた。低コヒーレンス干渉の別手法は生体細胞における非侵襲計測として発展している。