光の干渉は、後方散乱光の時間遅延と強度を非常に高感度に測定するのに強力な技術である。OCTは低コヒーレンス干渉として知られる古典的な光計測技術を基礎としている。ニュートンがいうように白色干渉としても知られる。低コヒーレンス干渉は1980年代、ファイバーや導波路デバイスにおける後方散乱や光時間遅延の計測としてフォトニクスの分野において用いられていた。初期の低コヒーレンス干渉の生体分野への応用は、Fercherなどに1988年に目の奥行き方向の長さ測定として行われた。低コヒーレンス干渉の別手法は生体細胞における非侵襲計測として発展している。

無料ユーザー登録

続きを読むにはユーザー登録が必要です。
登録することで3000以上ある記事全てを無料でご覧頂けます。
ログインパスワードをメールにてお送りします。 間違ったメールアドレスで登録された場合は、改めてご登録していただくかお問い合わせフォームよりお問い合わせください。

既存ユーザのログイン
   
新規ユーザー登録
*必須項目